V. G., Ravindran N.R., Kumary T.G., Pandian R., Mani A.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, thin films, substrate single crystal, PLD process, X-ray diffraction, annealing process, lattice parameter, microstructure, resistivity, temperature dependence, fabrication
AIP Conference Proceedings , 2019, v.2015, N 1, p.30494
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.